显微高光谱系统测试LED光源分析报告

显微镜低光谱系统是低光谱照相机、显微镜、计算机等融合的新型应用于方式，利用显微镜结构在有所不同缩放倍率下把待测试样品的微观尺度更进一步的提高的特点，需要充份仔细观察物质在其微观尺度上的图像信息，从而更进一步提供物质的光谱信息，这样充分利用低光谱在光谱和图像方面的优势，融合显微镜机构系统，把低光谱技术的应用于又更进一步展开了扩展。一、测试原理及方法低光谱光学技术是将近二十年来发展一起的基于十分多较宽波段的影像数据技术，其最引人注目的应用于是遥测观测领域，并在更加多的民用领域具有更大的应用于前景。它集中于了光学、光电子学、电子学、信息处理、计算机科学等领域的先进设备技术，是传统的二维光学技术和光谱技术有机的融合在一起的一门新兴技术。

低光谱光学技术的定义是在多光谱光学的基础上，在从紫外到近红外（200－2500nm）的光谱范围内，利用光学光谱仪，在光谱覆盖面积范围内的数十或数百条光谱波段对目标物体倒数光学。在取得物体空间特征光学的同时，也取得了被测物体的光谱信息。

目标物体－光学物镜－入射光狭缝－光束透镜－PGP－探讨透镜－CCD棱镜－光栅－棱镜：PGP图1光学原理图光谱仪的光谱分辨率由狭缝的宽度和光学光谱仪产生的线性色散确认。大于光谱分辨率是由光学系统的光学性能确认的（点拓展大小）。光学过程为：每次成一条线上的像后（X方向），在检测系统输送带行进的过程中，排序的探测器扫出一条放射状轨迹从而已完成横向扫瞄（Y方向）。综合横纵扫瞄信息就可以获得样品的三维低光谱图像数据。

图2像立方体二、测试分析Red红光LED样品测试：测试条件：电流：220mA电压：1．89V照相机参数：1392x520（空间维度x光谱维度）曝光时间：0．1ms光谱范围：400－1000nm光谱分辨率：3．6nm光谱校准文件参照附件显微镜：缩放倍率：10X物镜样品表面距离物镜透镜表面距离：1．6cm光学模式：光线光学模式显微镜光源光谱范围：350nm－2500nm以下图示是利用显微镜低光谱系统摄制的Red（红光）LED低光谱图像信息和光谱信息。局部看起来有点模糊不清，这是由于在很高的缩放倍率物镜下，样品表面不平导致的，图像较明晰的部分是照相机和显微镜系统正好正处于焦点上的状态，有些模糊不清的区域则略为背离一些焦点方位，在右图中罗列了多个有所不同焦点方位的较为明晰的图像。

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